|
|
עמוד:220
מתוך הדוגמה ניתן לראות שרוחב פס ההבחנה ( RBW ) קובע את כושר ההבחנה של נתח הספקטרום . נראה כי תמיד עדיף לבחור RBW קטן ככל האפשר וכך מקבלים הבחנה טובה יותר בין רכיבי התדר השונים ; אך כשעובדים עם RBW קטן דרוש זמן סריקה ארוך ולפעמים זמן הסריקה הוא כה ארוך עד שאינו מעשי . הסיבה לכך נעוצה בעובדה שמעגלי מסנן התדר המשתנה בנויים מרכיבים היגביים , שמהירות התגובה שלהם נקבעת לפי קבועי זמן פנימיים . אם זמן הסריקה של גל שן המסור , שמבקר את פעולת מסנן התדר המשתנה , יהיה קצר מדי ביחס לזמן התגובה של המסנן , אזי העוצמה במוצא תהיה קטנה מהאמיתית . מדידת תנופה של רכיבי התדר אחד היתרונות החשובים של נתח ספקטרום הוא האפשרות לבצע מדידת תנופה מדויקת ומכוילת של רכיבי התדר השונים המרכיבים את האות הנמדד . נתח הספקטרום מאפשר לבצע מדידה בסקלה לוגריתמית או ליניארית . בדרך כלל עדיפה המדידה בסקלה לוגריתמית , מפני שקיימים הבדלים גדולים בין העוצמות של רכיבי התדר השונים המרכיבים את האות הנמדד . עוצמת אות הייחוס מתוכננת כך שתסיט את קרן האלקטרונים לראש המרקע . עוצמת אות המבוא נקבעת בהתאם למספר המשבצות המפרידות בין ראש המרקע ועד למקום שבו נמצא האות הנמדד . כל משבצת בסקלה הלוגריתמית מייצגת יחס קבוע בין האות הנמדד לאות הייחוס . ( במשקף תנודות רמת הייחוס נקבעת בחלק התחתון של המרקע וכל משבצת מייצגת את ההפרש בין אות הייחוס לאות המבוא . ( בנתח ספקטרום יחידות המדידה הם n . [ dB / div ] יש אפשרות לבצע גם מדידות ליניאריות ביחידות של [ V / div ] בדומה למשקף תנודות . דוגמה 7 . 8 בנתח ספקטרום נמדד אות הגורם להופעת שני רכיבי תדר עיקריים , האחד בגובה של 4 משבצות וגובה השני משבצת אחת . הערוץ האנכי ( Y ) מכויל b . dB 20 / div א . מצא את יחס המתחים בין שני רכיבי התדר . ב . אם המתח של הרכיב הגבוה הוא , 1 V מצא את מתח הרכיב הנמוך . ג . סרטט את התצוגה המתקבלת על המרקע של המכשיר בסקלה לוגריתמית ובסקלה ליניארית .
|
|